单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

2023-06-01

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

A.近场干扰

B.材质衰减

C.盲区

D.折射



参考答案:

C

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